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一、针床式在线测试（In-Circuit Test，简称 ICT）

定义：通过定制化的测试治具（针床夹具），利用探针阵列与PCB上的测试点接触，实现电路连通性、元件参数等全面测试。

优点：

测试效率高

• 可同时对多个测试点进行并行测试，适合大批量生产，单块PCB测试时间通常在数秒到一分钟内。
• 适合重复性高、稳定性强的成熟产品，如消费电子主板、工业控制板等。

测试精度与可靠性高

• 探针与测试点接触稳定，受机械运动误差影响小，可精确检测微小电阻、电容值及焊接缺陷（如虚焊、短路）。
• 支持复杂电路的功能测试，如模拟电路、数字电路的逻辑验证。

自动化程度高

• 治具与生产线集成后，可实现全自动化测试，减少人工干预，降低误判率。

长期成本低（批量场景）

• 虽然治具初始成本高（通常数千元到数万元），但分摊到大量产品后，单块PCB的测试成本显著降低。

缺点：

治具成本与周期压力大

• 治具需根据PCB设计定制，制作周期长（通常2-4周），且成本随PCB复杂度和测试点数量增加而上升。
• 产品设计变更时（如测试点位置调整），治具需重新制作，灵活性差。

对PCB设计要求严格

• 需要在PCB上预留足够的测试点（通常为焊盘或过孔），且测试点间距需符合探针规格（一般≥0.5mm），可能影响PCB布局密度。

小批量生产不经济

• 若产品批量小（如几百块），治具成本占比过高，性价比低。

维护成本较高

• 探针长期使用后会磨损（寿命约5-10万次），需定期更换，增加维护工作量。

二、飞针式在线测试（Flying Probe In-Circuit Test，简称飞针 ICT）

定义：通过可移动的探针（飞针）代替固定治具，利用机械臂控制飞针逐点接触测试点，实现电路测试。

优点：

灵活性与适应性强

• 无需定制治具，直接通过软件设定测试点坐标，适合小批量生产、样品研发或产品迭代频繁的场景（如新产品试产、PCB设计验证）。
• 设计变更时仅需修改测试程序，无需物理调整，响应速度快。

初始成本低

• 省去治具制作费用，尤其适合中小批量生产或研发阶段，降低前期投入。

对PCB设计限制少

• 无需预留大量测试点，可通过飞针直接接触元件引脚或焊盘，适合高密度、小型化PCB（如手机主板、穿戴设备电路）。

测试覆盖范围广

• 可检测细间距元件（如01005封装、BGA焊点）的焊接质量，甚至支持盲孔、埋孔的测试。

缺点：

测试速度慢

• 飞针需逐点移动测试（单针移动速度约10-20点/秒），相比治具ICT的并行测试，效率明显较低，不适合大批量生产。

复杂电路测试效率更低

• 对于测试点超过200个的PCB，测试时间可能长达数分钟，影响生产线节拍。

机械精度要求高

• 飞针定位精度需达到±50μm以下，否则可能因接触不良导致误判，设备维护成本（如电机、探针校准）较高。

高端机型成本仍较高

• 虽然省去治具成本，但高精度飞针设备（如多针同时测试机型）的采购成本可达数十万元，中小工厂可能难以负担。

三、优缺点对比表格

四、应用场景建议

通过两者的优缺点对比，企业可根据产品特性、生产规模和成本预算，选择更适配的测试方案，或结合使用（如飞针用于研发验证，治具用于批量生产），以优化测试效率与成本。